透過型電子顕微鏡(TEM-EDS)

JEM2100F

私たちが得意とする「ナノの世界」を探検するのに不可欠な装置です。走査型電子顕微鏡は主に物質表面の情報を得るのに適しているのに対し,透過型電子顕微鏡は物質内部の情報を得るのに適しています。この顕微鏡を用いると,結晶粒子内部の単位格子の配列(通常nmオーダー)だけでなく,条件がよければ原子1つ1つの直接観察も可能です。また電子は波としての性質も持っていますから、回折現象を利用して、粒子の様々な結晶学的情報(結晶方位や対称性)が得ることができます。得られた拡大像/回折図形はイメージングプレートで撮影します。また、本装置はEDSが装備されており,数10nm領域の化学分析が可能です。